Hannover, 05.12.2023 (PresseBox) – Es würdigt damit Jürgen Schlöffels herausragende Beiträge zur Verbesserung der Zuverlässigkeit und der Testbarkeit von Mikrochips während seiner über 35-jährigen Tätigkeit in Industrie und Forschung.
Neben den fachlichen Arbeiten engagierte sich Herr Schlöffel in seiner Zeit im Hause Philips und nach dem Firmenübergang zu NXP bereits frühzeitig als Koordinator für erfolgreiche öffentlich geförderte Forschungsprojekte. Er war maßgeblich an über einem Dutzend BMBF-Projekten beteiligt, die zu einer Verbesserung der Entwicklungstechnologie (electronic design automation, EDA) zur Verbesserung der Testbarkeit und Zuverlässigkeit von Mikrochips beitrugen. In dieser Zeit hat er auf dem Gebiet EDA den engen Kontakt zwischen Industrie und Universität entscheidend intensiviert.
Über 10 Jahre trug er als Mitglied im Steuerungsgremium des edacentrum e.V. maßgeblich zum Erfolg des edacentrum bei. Ebenso war er langjährig im VDE sowie dem Programm-Komitee der ITG/GMM-Fachgruppe Test und Zuverlässigkeit tätig. Des Weiteren engagierte sich Herr Schlöffel in verschiedenen wissenschaftlichen Konferenzen im Bereich EDA. Mit seinen Patenten hat er ebenso wie als Autor/Koautor im Bereich EDA/DFT (design for testablity) maßgeblich zu technischen Weiterentwicklungen beigetragen, dies insbesondere mit seiner Fachkompetenz in der Mikroelektronik-Prozesstechnologie als Programm Manager bei Mentor Graphics, heute Siemens EDA.
Die EDA-Medaille 2023 wird damit einer Persönlichkeit verliehen, welche wesentlich zur Stärkung der Halbleiterindustrie, deren Anwendern und insbesondere zur Weiterentwicklung und Verbreitung von EDA in Deutschland beigetragen hat.